会社情報

  • Changchun New Industries Optoelectronics Technology Co., Ltd.

  •  [Jilin,China]
  • ビジネスタイプ:メーカー
  • Main Mark: アメリカ大陸 , アジア , その他の市場 , 西ヨーロッパ , 世界的に
  • 輸出国:51% - 60%
  • 本命:ISO9001, CE, FDA, RoHS, TUV
  • 説明:ホログラフィック用レーザー,ホログラムレーザー,レーザーホログラム,レーザーホログラムプロジェクター,,
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Changchun New Industries Optoelectronics Technology Co., Ltd.

ホログラフィック用レーザー

,ホログラムレーザー,レーザーホログラム,レーザーホログラムプロジェクター,,

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レーザーホログラフィー

レーザーホログラフィーの商品categorieに、我々は中国からの専門メーカーであり、ホログラフィック用レーザーに、ホログラムレーザーのサプライヤー/工場、卸売高品質製品は、レーザーホログラムのR&Dと製造は、我々は完璧なサービスと技術サポートアフター。ご協力を楽しみにしています!
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ホログラフィ用639nm単一周波数レーザ

モデル : MSL-FN-639-S

製品説明 639nm単一周波数レーザーレーザーは、 超小型設計と 長寿命で、10000時間以上の測定が可能で、測定、ホログラフィー、物理実験などに適しています。 電力の安定性はオプションで1%〜5%になります。アパーチャでのビーム直径はほぼ1.5mmです。そしてビームの発散は約1.5mradである。 振幅 のn oiseは0.5%であり、1%は任意である。周波数の高いこの高安定レーザーのために追加のヒートシンクが追加されています。 Central wavelength (nm) 639±1...

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は中国 レーザーホログラフィー サプライヤー

ホログラフィーは、記録と再生の2つの工程に分けられ、記録時の参照光と反射光との重ね合わせによってホログラフィックプレート上に干渉縞が発生する。そして、ホログラフィックプレートを暗室で処理した後、元の被写体と全く同じ画像 が回折によって感光シート上の 干渉 から再現される 。ホログラフィーは、通常の写真と比較して 、物体の光フィールドの 振幅 記録するだけでなく 、反射された光波の相対位相も記録する。ホログラフィは、ホログラフィック 顕微鏡、ホログラフィックセキュリティ、データ記憶、変形測定、ホログラフィック干渉計などに 広く使用され ている。

holography

特徴
■高信頼性シングル縦モードレーザー(コヒーレンス長> 50m)
■設置とメンテナンスが簡単です。関連するコンポーネントを提供することができます
■カスタマイズされたソリューションは、要求に応じて提供することができます

レーザー関連

波長:360nm、405nm、457nm、473nm、532nm、556nm、561nm、589nm、633nm、656nm、660nm、671nm、1064nm、
1342nm、1550nmなど。多波長システムもご要望に応じてご利用いただけます。

laser related to holography

付属品


Accessories for laser holography system

顧客からのOptogeneticsのためのCNIレーザーの研究成果

(1)樹状突起の3次元ホログラフィック光刺激

        (J. Neural Eng。8 046002; doi:10.1088 / 1741-2560 / 8/4/046002) (CNI-405nm)


(2)スピロオキサジンドープポリマーのホログラフィックデータ記憶における2波長露光増強
(Optics Communications Vol.338、March 2015、Pages 269-276) (CNI-405nm)

(3)構造光照明とフーリエに基づく深さ分解ハイパースペクトルイメージング分光器
干渉を変換 (バイオメディカル・オプティクスエクスプレス、第5巻、号10頁。3494から3507(2014))(CNI-の473nm)


(4)生きた細胞の光磁気イメージング (Nature 496,486-489(2013年4月25日)doi:10.1038 / nature12072) (CNI-532nm)

(5)侵入者検出と識別のための多波長レーザーセンサー

(エンジニアリングにおける光学およびレーザー第50巻第2号ページ176-181) (CNI-532nm)
 
(6)高強度レーザー誘導衝撃法における衝撃波とキャビテーション気泡の光学的観察
(Applied Optics、Vol。48、Issue 19、pp。3671-3680(2009)) (CNI-532nnm)
 
(7)光散乱測定のための顕微鏡分光計 (Applied Optics、Vol.49、Issue 22、pp.4193-4201(2010)) CNI-671nm / 532nm)



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